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Standex Detect ist der neue Name unseres Geschäftsbereichs für hochpräzise Reed-Schalter, Sensoren und Relais.

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RF-Reed-Relais für SoC-Tester

Da die heutigen SoC‑Bausteine immer weiter in die Bereiche Multi‑GHz‑HF, Multi‑Gbps‑Digitaltechnik und präziser Analogtechnik vordringen, war der Druck auf Testsysteme, saubere, reproduzierbare Messungen zu liefern, noch nie so groß. Im Zentrum dieser Leistungsfähigkeit steht zuverlässiges Signalschalten – und genau hier heben sich HF‑Reed‑Relais deutlich ab.

Wenn Sie in bestimmten Bereichen Unterstützung benötigen, können Sie gerne direkt zu einem der folgenden Abschnitte springen:

Zuverlässiges Multi-GHz- und High-Speed-Digitalsignal-Switching in Halbleiter-Testsystemen

System-on-Chip-(SoC-)Tester, die in der Halbleiterprüfung und Messtechnik eingesetzt werden, müssen eine große Vielfalt an Signalen mit hoher Präzision, Wiederholbarkeit und Geschwindigkeit routen. Diese Systeme unterstützen DC-Parametermessungen, Funktionstests, High-Speed-Digitalschnittstellen und HF-Charakterisierung – oft innerhalb derselben Testsequenz.

SoC-Tester basieren auf mehreren eng gekoppelten Subsystemen, darunter Pin Electronics, Instrumentierung, Kalibrierressourcen und Signal-Switching-Netzwerke. Signal-Switching wird mittels Relaismatrizen oder verteilter Signalführung auf Load Boards und Probe Cards umgesetzt. Die elektrische Performance und Zuverlässigkeit dieser Switching-Elemente wirken sich direkt auf Messgenauigkeit, Testabdeckung und den gesamten Testdurchsatz aus.

Diese Applikationsschrift erläutert die Rolle von HF-tauglichen Reed-Relais in SoC-Testern, skizziert die wichtigsten Switching-Anforderungen für Multi-GHz- und Multi-Gbps-Signale, vergleicht alternative Switching-Technologien und erklärt, warum HF-Reed-Relais häufig in spezifischen Switching-Ebenen von SoC-Testern eingesetzt werden, etwa beim Instrumenten-Multiplexing, der Auswahl von HF-Pfaden, Kalibrier-Schleifen, Guard- und Isolations-Switching sowie beim Routing von Messungen mit sehr geringer Leckage, bei denen hohe Isolation, geringe Leckage und stabile Signalintegrität erforderlich sind.

A close-up of a test and measurement device SoC tester. by Standex Detect

Sehen Sie sich die vollständige Liste der Tests und Zertifizierungen von Standex an:

  • AEC-Q200
  • IEC 60810-4
  • IEC 60601-1
  • IEC 62109-1/2
  • IEC 60664-1
  • ISO 6469-3
  • IEC 60255-27
  • UL-gelistet
  • RoHS, REACH

Anforderungen an das Switching in SoC-Testsystemen

SoC-Tester müssen Tausende von Signalen über ein breites Spektrum elektrischer Domänen hinweg schalten. Typische Anforderungen umfassen:

Switching-Anforderungen von SoC-Testsystemen

  • DC- und niederfrequente analoge Signale für Parametermessungen
  • High-Speed-Digitalsignale, häufig mit Multi-Gbps-Datenraten
  • HF-Signale im Multi-GHz-Bereich für Wireless- und Mixed-Signal-SoCs
  • Hohe Kanaldichte, insbesondere auf Load Boards und Probe Cards
  • Lange Betriebslebensdauer, häufig Hunderte Millionen Schaltzyklen

Relais werden eingesetzt, um Testinstrumente mit DUT-Pins zu verbinden und zu trennen, empfindliche Messungen zu isolieren, Signalpfade zwischen Testmodi umzuschalten sowie High-Speed- oder HF-Signale zu routen, ohne die Signalintegrität zu beeinträchtigen.

Mit steigenden Datenraten und Frequenzen werden Switching-Parasiten wie Kapazität, Induktivität und Impedanzsprünge kritisch. Selbst kleine Variationen in der Relaisgeometrie oder bei PCB-Übergängen können Reflexionen, Einfügedämpfung oder Übersprechen verursachen, die Testergebnisse negativ beeinflussen.

A digital illustration of a world map with the text 5G in the center. A finger touches a glowing point on the map, surrounded by technology and Pre-Charge Circuits icons, symbolizing global 5G connectivity. by Standex Detect

Überlegungen zu HF- und High-Speed-Digitalsignalen

High-Speed-Digitalsignale weisen viele Eigenschaften von HF-Signalen auf. Ein Digitalsignal, das mit mehreren Gigabit pro Sekunde arbeitet, enthält Oberwellenanteile weit über seiner grundlegenden Taktfrequenz. Daher muss der Switching-Pfad Bandbreiten deutlich in den Multi-GHz-Bereich unterstützen, um Anstiegszeit, Flankenintegrität und Timing-Margen zu erhalten.

Aus Switching-Sicht haben HF- und High-Speed-Digitalsignale unterschiedliche Impedanzanforderungen. HF-Signalpfade sind typischerweise single-ended und auf etwa 50 Ω kontrolliert. High-Speed-Digitalschnittstellen sind üblicherweise differentiell und erfordern eine kontrollierte differentielle Impedanz, strenge Skew-Kontrolle und geringe Mode Conversion. Parallele und Speicher-Interfaces sind topologieabhängig und nicht durchgängig end-to-end universell 50 Ω.

Neben der Impedanzkontrolle erfordern sowohl HF- als auch schnelle digitale Signalpfade:

  1. Geringe Einfügedämpfung über die vorgesehene Bandbreite
  2. Minimale Reflexionen durch Impedanzsprünge
  3. Geringe parasitäre Kapazität, insbesondere über offenen Kontakten
  4. Stabile Performance über Temperatur und Lebensdauer

Switching-Komponenten, die bei DC oder niedrigen Frequenzen gut funktionieren, können diese Anforderungen unter Umständen nicht mehr erfüllen, sobald Flankensteilheiten und Frequenzen steigen.

Technologieoptionen für das Switching in SoC-Testern

In SoC-Testsystemen werden mehrere Switching-Technologien eingesetzt oder evaluiert. Jede bietet Vorteile und Kompromisse.

Elektromechanische Relais (ankerbasiert)

Traditionelle elektromechanische Relais können hohe Ströme und Spannungen schalten und eignen sich für Leistungsrouting oder Stresstests. Ihre größere Bauform, langsamere Schaltgeschwindigkeit und begrenzte Hochfrequenz-Performance machen sie jedoch weniger geeignet für dichte, schnelle SoC-Testarchitekturen.

Solid-State-Relais und Halbleiterschalter

Solid-State-Switching-Bauelemente bieten hohe Schaltgeschwindigkeiten und keinen mechanischen Verschleiß. Sie bringen jedoch grundsätzlich Durchlasswiderstand, Leckage im Sperrzustand und parasitäre Kapazität ein. Diese Eigenschaften verringern die Isolation, erhöhen die Einfügedämpfung und können niederpegelige analoge oder High-Speed-Signale verzerren, was ihre Eignung für präzise SoC-Tests einschränkt.

MEMS-Schalter

MEMS-Schalter können gute HF-Performance und kleine Bauformen bieten. Dennoch bestehen weiterhin Herausforderungen hinsichtlich Langzeitzuverlässigkeit, Robustheit beim Hot-Switching, Strombelastbarkeit und Kosten.

HF-Reed-Relais

HF-Reed-Relais kombinieren mechanische Metall-auf-Metall-Kontakte mit kompakter Geometrie und schneller Betätigung. Ihre hermetisch dicht gekapselten Kontakte bieten:

  1. Sehr niedrigen Durchlasswiderstand
  2. Extrem hohen Isolationswiderstand im Sperrzustand
  3. Niedrige und stabile parasitäre Kapazität
  4. Hervorragende Signal-Linearität
  5. Lange Betriebslebensdauer bei Signalpegel-Lasten

Moderne HF-Reed-Relais sind speziell mit Signalpfaden mit kontrollierter Impedanz und interner Abschirmung entwickelt, wodurch ein zuverlässiger Betrieb für Multi-GHz-HF-Signale und Multi-Gbps-Digitalsignale ermöglicht wird.

Warum HF-Reed-Relais besonders gut für SoC-Tester geeignet sind

HF-Reed-Relais kommen einem idealen Schalter für Anwendungen auf Signalpegel sehr nahe. Im geschlossenen Zustand ist der Signalpfad ein durchgehender metallischer Leiter mit minimalem Widerstand und minimaler Verzerrung. Im offenen Zustand sorgen der physische Luftspalt und die geringe Kapazität für eine ausgezeichnete Isolation. Dieses Verhalten ist besonders wichtig für HF-Messungen und High-Speed-Digitalvalidierung, bei denen Leckage, Nichtlinearität oder Parasiten Ergebnisse verfälschen können.

Wesentliche Vorteile sind:

  • Hohe Signalintegrität sowohl für HF- als auch für schnelle Digitalsignale
  • Ausgezeichnete Isolation zwischen Kanälen in dichten Relaismatrizen
  • Schnelle Schaltgeschwindigkeiten, die einen hohen Testdurchsatz unterstützen
  • Sehr lange Betriebslebensdauer bei Signalpegel- und Cold-Switching-Bedingungen
  • Kompakte Gehäuse, die eine hohe Kanaldichte ermöglichen

Diese Eigenschaften machen HF-Reed-Relais sowohl für Einstiegs-SoC-Tester als auch für hochkomplexe Multi-Site-Testplattformen geeignet.

Designüberlegungen für HF-Reed-Relais in SoC-Tests

Um zuverlässige HF- und High-Speed-Digital-Performance zu erzielen, ist ein sorgfältiges Relaisdesign erforderlich.

Designüberlegungen für Relais

Geometrie des Signalpfads

Die charakteristische Impedanz muss vom PCB-Eintritt über das Relais bis zurück zum PCB konsistent bleiben. Änderungen der Geometrie oder der dielektrischen Umgebung können Reflexionen und Einfügedämpfung verursachen.

Gehäusematerialien

Keramiksubstrate und thermisch stabile Vergussmassen helfen, die Maßhaltigkeit und eine konstante elektrische Performance über die Temperatur hinweg aufrechtzuerhalten.

Abschirmung

Interne elektrostatische Abschirmung reduziert kapazitive Kopplung und verbessert die Isolation bei höheren Frequenzen. Magnetische Abschirmung verhindert Wechselwirkungen zwischen Spulen in dichten Layouts.

Anschlusskonfiguration

Surface-Mount-Anschlussformen sind optimiert, um Parasiteneffekte zu minimieren und sich in PCB-Layouts mit kontrollierter Impedanz zu integrieren.

Beispiel einer SoC-Testarchitektur

Klicken Sie auf das Testdiagramm, um es in einem größeren Format anzuzeigen.

A detailed block diagram illustrating the workflow of a semiconductor test system, featuring SoC testers, labeled boxes, colored arrows for data flow, and sections for generation, measurement, and precision processing, leading to DUT and handler/prober interface. by Standex Detect
Abbildung 1. Typisches Signalrouting eines SoC-Testers mit Relaismatrizen, Pin Electronics, Load-Board-Switching sowie HF-/High-Speed-Digitalsignalpfaden.

HF-Reed-Relais-Lösungen für SoC-Testanwendungsfälle

Standex / Sanyu bietet ein Portfolio von HF-Reed-Relais, das darauf ausgelegt ist, die gesamte Bandbreite an Anforderungen von SoC-Tests abzudecken – vom kompakten Hochfrequenz-Switching bis hin zu dichten Matrixarchitekturen.

Die Switching-Performance auf Signalpegel unterstützt -3-dB-Bandbreiten bis zu 8 GHz, abhängig von Gehäusebauform und Geometrie. Ausgewählte Serien sind in der Lage, High-Speed-Digitaldatenübertragung mit stabilem Eye-Verhalten für High-Speed-Datenraten bis in den Bereich von ca. ~6 bis ~9 Gb/s unter definierten Testbedingungen zu unterstützen.

Diese Performance wird durch eine sehr geringe Kapazität über offene Kontakte (~0,2–0,5 pF), einen stabilen Kontaktwiderstand im Bereich von mehreren Zehn Milliohm sowie eine kompakte elektrische Länge mit kontrollierter Signalgeometrie ermöglicht.

Bei Umsetzung mit geeignetem PCB-Interconnect-Design bieten diese Reed-Relais eine zuverlässige Lösung für die Auswahl von Multi-GHz-HF-Pfaden und Multi-Gb/s-Digitalswitching in komplexen SoC-Testsystemen.

RelaisserieTypischer SoC-Testanwendungsfall
CRF SeriesMulti-GHz-HF-Signalrouting, High-Speed-Digitalkanäle mit Anforderungen an die geringste Einfügedämpfung
U SeriesUltra-kompakte Load Boards, Multi-GHz-HF- und High-Gbps-Digitalswitching, bei dem Platz kritisch ist
C SeriesHochdichte Surface-Mount-Relaismatrizen für gemischte HF-, Digital- und Analog-SoC-Tests
M SeriesAllzweck-SoC-Pin Electronics, Funktionstestpfade und Mixed-Signal-Routing. Verfügbar als Normally-Open-Kontakt in 1A- und 2A-Form
MT SeriesDifferenzielles Signal-Switching für High-Speed-Seriellschnittstellen. Verfügbar als Changeover Form 1C und 2C
MH SeriesRelaismatrizen mit sehr hoher Kanalanzahl und dichte SoC-Testsysteme im ICT/FCT-Stil. Extra kleines Relais, verfügbar als Changeover Form 1C

Über diese Serien hinweg liegt der Schwerpunkt auf kontrollierter Impedanz, geringer Einfügedämpfung, hoher Isolation, langer Lebensdauer und konsistenter Performance in hochdichten Layouts.

Mehr als HF-Switching-Komponenten: Validieren Sie Ihren HF-Signalpfad

Die Auswahl des richtigen HF-Relais ist nur ein Teil der Herausforderung – die Validierung der Performance unter realen Bedingungen ist der Punkt, an dem echtes Systemvertrauen entsteht.

Standex Detect geht über Switching-Komponenten hinaus und stellt HF-Evaluierungsboards bereit, die darauf ausgelegt sind, Ihren Entwicklungsprozess zu beschleunigen. Beim Betrieb im Multi-GHz-Frequenzbereich können selbst kleine Abweichungen zwischen modelliertem und realem Verhalten Ausbeute und Performance beeinflussen.

Unsere HF-Demo-Boards ermöglichen Ingenieurinnen und Ingenieuren:

  • Einfügedämpfung, Isolation und Rückflussdämpfung präzise zu charakterisieren
  • PCB-Layout- und Signalrouting-Strategien zu optimieren
  • Genaue Daten in Simulations- und Modellierungswerkzeuge einzuspeisen
  • Die Time-to-Validation für Halbleiter-Testsysteme zu verkürzen

Engineering Guide für HF-Demo-Boards:

Die erfolgreichsten HF-Testdesigns verlassen sich nicht auf Annahmen. Sie stützen sich auf Messdaten, die mit realen Bedingungen übereinstimmen – und genau das liefern unsere Evaluierungsboards.

Laden Sie den Engineering Guide herunter

Cover of an RF Board Engineering Guide by Standex Electronics, featuring images of yellow RF boards with connectors and title text about evaluating reed relays in RF test systems and SoC Testers. by Standex Detect

Fazit

Da SoC-Bauelemente weiterhin HF-, High-Speed-Digital- und präzise Analogfunktionen integrieren, steigen die Anforderungen an Switching-Komponenten in Testsystemen kontinuierlich. Auch wenn alternative Switching-Technologien existieren, bleiben HF-Reed-Relais aufgrund ihrer einzigartigen Kombination aus Signalintegrität, Zuverlässigkeit, Schaltgeschwindigkeit und Dichte eine bewährte und breit etablierte Lösung.

Durch das Verständnis der elektrischen und mechanischen Herausforderungen von SoC-Tests und die Entwicklung von Relais entlang dieser Randbedingungen bietet Standex / Sanyu HF-Reed-Relais-Lösungen, die präzise, wiederholbare und durchsatzstarke Halbleitertests in einem breiten Anwendungsspektrum ermöglichen.


Close-up of two people in business suits shaking hands, suggesting agreement or partnership in a professional setting—ideal for illustrating collaboration on High-Voltage Reed Relay Applications. by Standex Detect

Partnerschaft für Präzision

Wenn es darauf ankommt – das richtige Design, zur richtigen Zeit, zu optimalen Kosten.

Bei der Entwicklung mit HF-Reed-Relais für SoC-Testsysteme geht es nicht nur um die Auswahl von Komponenten – es geht darum, Signalintegrität, Wiederholbarkeit und Messgenauigkeit bei hohen Frequenzen und schnellen Schaltgeschwindigkeiten sicherzustellen. Von der Impedanzkontrolle und der Minimierung der Einfügedämpfung bis hin zur Reduzierung von Übersprechen und zur Aufrechterhaltung der Isolation in dichten ATE-Architekturen: Jede Designentscheidung beeinflusst direkt die Testperformance und die Ausbeute.

Deshalb arbeiten führende Ingenieurinnen und Ingenieure mit Standex Detect zusammen – nicht nur als Komponentenlieferant, sondern als vollständig integrierter Entwicklungs- und Fertigungspartner für präzise HF-Switching-Lösungen.

End-to-End-Design

Mit vollständiger Kontrolle von der Reed-Switch-Fertigung bis zur fertigen HF-Relaismontage entwickelt, fertigt, testet und qualifiziert Standex Detect Lösungen vollständig in-house. Diese vertikale Integration gewährleistet eine enge Toleranzkontrolle, konsistente HF-Performance und schnellere Entwicklungszyklen – entscheidend für Anwendungen, die Hochfrequenz-Signalrouting, geringe Einfügedämpfung und zuverlässiges Schalten über Millionen von Zyklen erfordern.

Kundenspezifisch entwickelt

Unser Ansatz geht über Standardprodukte hinaus. Während viele HF-Designs mit einem Katalogrelais beginnen, haben sich mehr als 35.000 Kundenprogramme zu kundenspezifisch entwickelten Reed-Relais-Lösungen weiterentwickelt, die auf exakte elektrische, mechanische und signaltechnische Performanceanforderungen zugeschnitten sind.

Ob Optimierung der Impedanzanpassung für Signale im GHz-Bereich, Verfeinerung der Abschirmung zur Minimierung von EMI und Übersprechen oder Abstimmung der Kontaktgeometrie für konsistente HF-Performance über die Lebensdauer: Jeder Parameter wird an die Anwendung angepasst – nicht umgekehrt.

Globale Fertigung

Ebenso wichtig ist die globale Skalierung. Mit Entwicklungs- und Fertigungsstandorten in Nordamerika, Europa und Asien bietet Standex Detect die Flexibilität und Resilienz der Lieferkette, die für Halbleiter-Testprogramme mit hohen Stückzahlen erforderlich ist – von der frühen Validierung bis zur vollständigen Produktionsausbringung.

Anwendungsführerschaft

Diese Fähigkeit basiert auf tiefgehender technischer Führungsstärke. Als weltweit größter Hersteller von Reed-Switches (>700 Millionen jährlich) vereint Standex Detect Werkstoffwissenschaft, HF-Design-Know-how und proprietäre Lebensdauertests, um eine stabile, wiederholbare Performance in anspruchsvollen Umgebungen wie Halbleiter-ATE, SoC- und Wafer-Level-Tests, Telekommunikationsinfrastruktur und High-Speed-Instrumentierung sicherzustellen.

Co-Engineering-Partnerschaft

Am wichtigsten ist jedoch: Die Zusammenarbeit beginnt früh. Standex Detect arbeitet direkt mit Ihrem Engineering-Team zusammen – von Konzept und Simulation über Validierung bis zur Produktion – um die HF-Switching-Performance zu optimieren, Signaldegradation zu reduzieren und die Time-to-Market in komplexen Testsystemen zu beschleunigen.

Das Ergebnis ist mehr als ein Relais – es ist eine präzise entwickelte HF-Switching-Lösung, die darauf ausgelegt ist, die Anforderungen Ihrer Anwendung an Frequenz, Signalintegrität und Lebenszyklus zu erfüllen.

Wenn Präzision, Zuverlässigkeit und Lebenszyklus-Performance am wichtigsten sind, liefert Standex Detect entwickelte HF-Relaislösungen – nicht nur Komponenten.

Entwickeln Sie Ihr nächstes
HF-Testdesign

Wenn Signalintegrität, Schaltgeschwindigkeit und Messgenauigkeit zählen, macht der richtige Partner den Unterschied.

Standex Detect arbeitet an der Seite Ihres Teams, um HF-Switching-Lösungen zu entwickeln, zu validieren und bereitzustellen, die für Ihre exakte Anwendung optimiert sind – nicht in Standardrestriktionen gepresst.

Ihr Gewinn:
  • Kundenspezifisch entwickelte HF-Relaislösungen, zugeschnitten auf Ihre Frequenz- und Signalanforderungen
  • Unterstützung vom Konzept über Validierung bis zur Produktion
  • Bewährte Performance in High-Speed-Halbleiter- und ATE-Umgebungen
  • Globale Fertigung mit stabiler Lieferkette

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