Reedrelais der Serie C
Die Serie C ist ein kompaktes, oberflächenmontiertes Reed-Relais mit hoher Dichte, das für das Schalten von Hochfrequenzsignalen in Anwendungen mit begrenztem Platzangebot entwickelt wurde. Mit einer ausgezeichneten internen Abschirmung und einer HF-Leistung bis zu 7 GHz bietet die C-Serie eine 10 % geringere Größe im Vergleich zu ähnlichen Modellen, ohne die Zuverlässigkeit oder Signalintegrität zu beeinträchtigen.
Die C-Serie ist in SPST-NO-Konfigurationen (Form A) erhältlich, unterstützt Spulenspannungen von 3,3 VDC und 5 VDC und ist für bis zu 10 W, 100 VDC und 0,5 A ausgelegt. Durch das flache J-Lead-Design ist sie ideal für die automatisierte Montage und Leiterplattenlayouts mit hoher Dichte in HF-, Telekommunikations- und Testsystemen. Mit ihrer langen Lebensdauer und konstanten Leistung ist die C-Serie eine zuverlässige Lösung für anspruchsvolle Hochgeschwindigkeitsanwendungen.
- RF-Schaltfähigkeit bis zu 7 GHz (Standard 5 GHz)
- Kompaktes oberflächenmontierbares Design mit 10 % kleinerer Grundfläche als vergleichbare Modelle
- Hervorragende interne Abschirmung für reduzierte Signalinterferenzen
- SPST-NO (Form A) Kontaktkonfiguration
- Ausgelegt für 10 W, 100 VDC und 0,5 A
- Optionen für die Spulenspannung: 3,3 VDC und 5 VDC
- J-Lead-Gehäuse für Oberflächenmontage mit hoher Dichte
- Lange Produktlebensdauer und stabile Leistung in RF-Umgebungen
- RoHS-konform für globale Umweltstandards
| Spulenspannung (VDC) | 3.3, 5 |
| Spulenwiderstand (Ω) Max. | 150 |
| Kontaktform | 1A (SPST) Normalerweise offen (N.O.) |
| Nennleistung Max. | 10W/100VDC/0.5A |
| Einfügungsdämpfung -3dB Abfallpunkt GHz | ~ 5 GHz (7 GHz Option) |
| Lebenserwartung (bei 1V 10mA) | > 300 Millionen Schaltzyklen |
- Automatisierte Prüfgeräte (ATE): Schalten von Hochfrequenzsignalen in Lastkarten
- Telekommunikation: RF-Routing in kompakten Netzwerkmodulen
- Drahtlose Kommunikation: Signalintegrität in Hochgeschwindigkeitssystemen
- Funktionale PCB-Testsysteme: Zuverlässiges Schalten in dichten Testarrays
- Datenerfassungssysteme: Präzise Signalsteuerung in kompakter Instrumentierung
- IC-Wafer-Prüfung: Hochgeschwindigkeits-Relaisschaltungen in Halbleiter-Testaufbauten
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